加工装置・測定装置

加工装置

外周刃

外周刃研削機は、研削砥石を回転させながら、工具の回転軸に対して垂直に当てて、工具の外周部分を研削します。研削砥石は、研削用の研粒を含む砥石材料でできており直径数十センチメートルから数メートルに及ぶ大型のものもあります。砥石は、研削加工に適した形状に削り出され、回転することで後部の刃部分を切断します。

ロータリー研削機

ロータリー研削機は、工作物を固定した後、工作物と砥石を同時に回転させながら、砥石を工作物に対して移動させて研削を行います。砥石は回転する工具であり、直径や形状、研削材質などが異なるものが用いられます。また、工作物には内研削用と外研削用の2種類があります。

円筒研削機

円筒研削機は、研削面の直径や長さが大きい工作物を研削することができます。工作物は、研削盤に取り付けられた工作ヘッドによって回転し、砥石は砥石ヘッドに取り付けられたスライドによって移動しながら工作物を研削します。また、砥石は直径や幅、材質、研粒の種類などが異なるものが用いられ、工作物の材質や形状に合わせて選択されます。

ワイヤーソー

ワイヤーソーは、金属や非金属、複合材質など幅広い材料の切断に利用されます。特に硬くてもろい材料や、大きな厚みのある材料を切断する際に有効です。また、ワイヤーソーは切断による熱や振動が少ないため、加工後の材料に歪みや変形が生じにくく、高精度な加工が可能です。

面取り機(OMT)

面取り機には、手動式、半自動式、全自動式などの種類があります。手動式面取り機は、操作者が手動でエッジを削り取ることができます。一方、半自動式面取り機はエッジをセットするだけで、機械が自動で面取り加工を行います。全自動式面取り機は、搬送装置を備えたライン全体が自動化されているため、高い生産性が期待できます。

ラップ機

ラップ機は研磨対象の材料を専用のキャリアに固定し、ラップ定盤の上に乗せます。キャリアを上下ラップ定盤に挟み込み、定盤、キャリアを回転させながら、材料の表面を研磨することができます。ラップ機は、高精度な平面化や表面粗さの制御が可能であり、微細な加工に適しています。

研磨機

ポリッシュ研磨機は、回転するポリッシュ定盤の上に研磨剤とともに磨く対象物を乗せ、回転するポリッシュ定盤と専用のキャリアを動かして研磨することができます。研磨剤は、ダイヤモンド砥粒やシリコンカーバイトなどの化合物を使用し、スラリーを噴射しながら研磨することが一般的です。

洗浄機

精密洗浄機は、水、有機溶剤、アルコール、酸、アルカリなどを使用し、部品表面に付着した油や汚れ飲粒子を取り除くことができます。一般的には、高圧スプレー、ウルトラソニック、振動、時射などの方法組み合わせて使用し、微細な穴や隙間に入り込んだ汚れも除去できます。

蒸着機

真空蒸着機は、真空中での蒸発を可能にするように設計されています。真空中では、気体分子の平均自由行程が長くなり、物質が蒸発しても気体分子との衝突が減ります。これにより、蒸発した分子が表面に到達し、より均一な薄膜を形成することができます。

接着

UV接着は、接着面にUV接着剤を塗布し、紫外線を照射することで硬化します。紫外線を照射する装置を使用することで、一度に多数の接着部位を処理することができるため、自動化にも適しています。また、硬化後の接着剤は透明であり、見た目が美しいため、デザイン性の高い製品にも適しています。

検査

光学基板の濁度測定においては、測定対象の基板を適切な方法でサンプルとして取り出し、濁度計で測定します。光学基板は、非常に透明度が高いため、微小な濁りでも測定可能です。また、光学基板の表面の状態や形状によっても濁度が変化するため、測定においては、測定対象の基板の表面状態や形状に注意が必要です。

測定装置

分光光度計

分光光度計は、波長可変型と固定波長型があります。波長可変型は光源から出る光を分光器で分光し、試料に照射する光の波長を可変にすることができます。固定波長型は、光源から出る光を固定波長で照射することができます。波長可変型は、波長範囲が広く、試料吸光度が複数の波長で測定できるため、定量分析に適しています。一方、固定波長型は波長別に測定できるため定性分析に適しています。

分光光度計

レンズ式反射測定器

レンズ式反射測定器（れんずしきははんしゃそくていき）は、物質の表面の光学的な性質を評価するために使用される測定器の一種です。この測定器は、試料の表面に光を照射し、その反射光をレンズで集め、検査機で測定することで、試料の表面状態、膜厚、屈折率などを評価することができます。

高抵抗率計

高抵抗率計（こうていこうりつけい）は物質の抵抗率を測定するために使用される測定器です。高抵抗率は、試料に直流電力を印加し、流れる電流と印加電圧を測定することで、試料の抵抗率を測定します。

接触角計

接触角計（せっしょくかくけい）は、物質の表面張力や界面張力を評価するために使用される測定器の一種です。接触角計は、試料の表面に液体を垂らし、その接触角を測定することで、表面の親水性や撥水性、表面エネルギー、表面処理の効果などを評価することができます。

濁度計(HAZEメーター)

光学基板の濁度測定においては、測定対象の基板を適切な方法でサンプルとして取り出して、濁度計で測定します。光学基板は、非常に透明度が高いため、微小な濁りでも測定可能です。また、光学基板の表面状態や形状によっても濁度が変化するため、測定においては、測定対象の基板の表面状態や形状に注意が必要です。

レーザー変位計

レーザー変位計とは、非接触で物体の微小な変異を測定するために用いられる測定器具の一種です。レーザー変位計はレーザー光を物体に照射し、反射光を受光素子で受け取ることで物体の微小な変位を測定することができます。

オシロスコープ

「オシロスコープ（oscilloscope）」は、電気信号の波形を観察するための測定器具で、通常はオシロと略されます。波形の振れ幅、周波数、位相などを測定することでき、また、信号の歪みやノイズなども検出することができます。オシロスコープは、電気工学、物理学などの分野で広く使用されています。

レーザー干渉計

レーザー干渉計は、干渉縞を計測することで微小な変位を測定するため、非常に高精度な測定が可能です。精密加工や試験、実験などの分野で広く用いられています。例えば、機械部分の測定や評価、光学素子の測定、材料の弾性率の測定、変形解析、振動解析などに利用されます。

位相差測定器

位相差測定器(Phase detector)は、電気回路の一種で、2つの信号の位相差を検出するために使用されます。一般的には、2つの入力信号を比較し、それらの位相差を検出することで動作します。位相差測定器は、周波数合成器や位相整合回路、位相制御回路などの電子回路で使用されます。